新入社員に
「検査って不良を探す工程ですよね？」
って聞かれて、うまく説明できないと危ないです。
結論ですが、検査工程は
不良を探す工程じゃない。
良品を下流に出す工程です。
だから 良品メモリ（良品ビット）を作る。
なぜか。
「不良フラグ方式」だと、
フラグが立たない事故が起きた瞬間に“不良が流れる側”に倒れます。
良品ビット方式は、その逆で“流出防止側”に倒せる。
例えるなら出席確認。
「来た人に○」の方が漏れに強い。
実装の型はこれ
⇩
① 良品の“証拠”が、能動的にONされる設計にする
② 最終工程ほど、フェールセーフ（流出防止側）に倒す
③ 「不良じゃなければ良品」みたいな穴を作らない（判定した証拠を残す）
検査は暗記科目じゃありません。
流出を止めるための、設計の考え方です。