(cache)クリプト𝕏チワワ™️ on X: "Cpkから推測される不良発生率に対して下流工程で見つかった不良品の数が異常に多かったんやろ検査方法や検査機器の精度が悪かった可能性を否定したうえで当該工程に起因する不良では無いことを証明するまで全数検査なお後日、下流工程までの間の半製品保管工程で問題があったことが判明までセット" / X

Cpkから推測される不良発生率に対して下流工程で見つかった不良品の数が異常に多かったんやろ検査方法や検査機器の精度が悪かった可能性を否定したうえで当該工程に起因する不良では無いことを証明するまで全数検査なお後日、下流工程までの間の半製品保管工程で問題があったことが判明までセット

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ぶたまる@生技