李斌成，男，汉族，电子科技大学光电信息学院教授，分别于1985、1988和1995年获得学士、硕士和博士学位，中国科学院光电技术研究所客座研究员，中国科学院引进国外杰出人才类“百人计划”入选者（终期评估“优秀”），四川省学术和技术带头人，国际标准化组织（ISO）TC 172/SC 9/WG 6专家组成员，第14-19届国际光声光热大会国际顾问或技术委员会委员，第17届国际光声光热大会共主席，美国光学学会2013、2016年光学干涉薄膜系列国际会议技术委员会委员，高功率激光系统与应用系列国际会议顾问委员会委员，中国科学院大学（研究生院）第三届学位委员会学科群学位分委员会（材料科学与光电技术）委员和光学工程学科教学专家组成员，全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会委员，全国光学与光子学标准化委员会电子光学系统分委会委员。2007年获得国际光声光热联合会（IPPA）青年成就奖，2011年被评为国家863技术“十一五”先进个人，2012年获中国科学院王宽诚西部学者突出贡献奖。先后主持国家科技重大专项、国家重大科研装备自主创新试点项目、国家863计划项目、国家自然科学基金项目、中国科学院科研装备研制项目、中国科学院“百人计划”择优支持项目等项目二十余项，在国内外主要学术期刊和国际学术会议上发表学术论文200余篇。其中SCI收录论文110篇。作为项目负责人及撰写人制定国际标准1项（ISO 13142）。授权美国发明专利2项，中国发明专利37项。 [1]
- 中文名
- 李斌成
- 国 籍
- 中国
- 民 族
- 汉族
- 职 称
- 研究员
- 教学职称
- 教授
- 性 别
- 男
1988：电子科技大学光电子技术系工学硕士学位
1995：武汉大学化学系理学博士学位工作经历：（曾在何处工作、技术职称、行政职务，从副研、副处以上职称职务填起）
1995 – 1997：南京大学博士后、副教授 2004.- 现今：中国科学院“百人计划”入选者，光电技术研究所研究员分别于1985、1988和1995年获得学士、硕士和博士学位，中国科学院光电技术研究所客座研究员，中国科学院引进国外杰出人才类“百人计划”入选者（终期评估“优秀”），四川省学术和技术带头人，国际标准化组织（ISO）TC 172/SC 9/WG 6专家组成员，第14-19届国际光声光热大会国际顾问或技术委员会委员，第17届国际光声光热大会共主席，美国光学学会2013、2016年光学干涉薄膜系列国际会议技术委员会委员，高功率激光系统与应用系列国际会议顾问委员会委员，中国科学院大学（研究生院）第三届学位委员会学科群学位分委员会（材料科学与光电技术）委员和光学工程学科教学专家组成员，全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会委员，全国光学与光子学标准化委员会电子光学系统分委会委员 [2]。
在国内外主要学术期刊和国际会议上发表论文170余篇，其中SCI收录论文近90余篇，他引360余次。申请发明专利30余项，授权美国和中国专利20余项。
培养研究生信息：已毕业硕士研究生4名，博士研究生8名；在读硕士研究生5名，博士研究生3名。
(1) Xiaorong Zhang and Bincheng Li*, Sensitivity enhancement of surface thermal lens technique with a short-wavelength probe beam: Experiment, Rev. Sci. Instrum., 2015, 86(2): 024902
(2) Xiaorong Zhang and Bincheng Li*, Calibration optimization of laser-induced deflection signal for measuring absorptance of laser components, Appl. Opt. , 2015, 54(8):1861-1869
(3) Cunding Liu, Mingdong Kong, and Bincheng Li*, Anomalous optical Anderson localization in mixed one dimensional photonic quasicrystals, Opt. Express, 2015, 23(19): A1297
(4) Chun Guo, Mingdong Kong, Dawei Lin, and Bincheng Li*, Fluoride coatings for vacuum ultraviolet reflection filters, Appl. Opt., 2015, 54(35): 10498
(5) Qian Wang and Bincheng Li*, Electronic transport characterization of silicon wafers by spatially resolved steady-state photocarrier radiometric imaging, J. Appl. Phys., 2015, 118(12): 125705
(6) Qian Wang and Bincheng Li*, Accurate determination of electronic transport properties of silicon wafers by nonlinear photocarrier radiometry with multiple pump beam sizes, J. Appl. Phys., 2015, 118(21):215707
(7) Bincheng Li*, Hao Cai, Yanling Han, Lifeng Gao, Chunming Gao, and Yafei Wang, Simultaneous determination of optical loss, residual reflectance and transmittance of highly anti-reflective coatings with cavity ring down technique, Opt. Express, 2014, 22(23): 29135-29142
(8) Cunding Liu, Mingdong Kong, and Bincheng Li*, Tamm plasmon-polariton with negative group velocity induced by a negative index meta-material capping layer at metal-Bragg reflector interface, Opt. Express, 2014, 22(9):11376-11383
(9) Chun Guo, Mingdong Kong, Weidong Gao, and Bincheng Li*, Simultaneous determination of optical constants, thickness, and surface roughness of thin film from spectrophotometric measurements, Opt. Lett., 2013, 38(1) :40-42
(10) Chun Guo, Mingdong Kong, Dawei Lin, Cunding Liu, and Bincheng Li*, Microstructure-related properties of magnesium fluoride films at 193nm by oblique-angle deposition, Opt. Express, 2013, 21(1): 960
(11) Hongyu Zu, Bincheng Li*, Yanling Han, and Lifeng Gao, Combined cavity ring-down and spectrophotometry for measuring reflectance of optical laser components, Opt. Express, 2013, 21(22): 26735
(12) Chun Guo, Mingdong Kong, Cunding Liu, and Bincheng Li*, Optimization of thickness uniformity of optical coatings on a conical substrate in a planetary rotation system, Appl. Opt., 2013, 52(4):B26
(13) Weijing Liu and Bincheng Li*, Repetition rate dependence of absorption of fused silica irradiated at 193 nm, Chin. Opt. Lett., 2013, 11(5):053002
(14) Shengdong Ren, Bincheng Li*, and Qiuping Huang, Three-dimensional transient model for time-domain free-carrier absorption measurement of excess carriers in silicon wafers, J. Appl. Phys., 2013, 114(24): 243702
(15) Qiuping Huang, Bincheng Li*, and Shengdong Ren, Optical and photo-carrier characterization of ultra-shallow junctions in silicon, Sci. China-Phys. Mech. Astron., 2013, 56(7): 1294-1300
(16) Qiuping Huang and Bincheng Li*, Photocarrier radiometry of ion-implanted and thermally annealed silicon wafers with multiple-wavelength excitations, J. Appl. Phys., 2012, 111(9):093729
(17) Yanru Wang and Bincheng Li*, Accurate temperature model for absorptance determination of optical components with laser calorimetry, Appl. Opt., 2011, 50(9): C264 [3]
2007：国际光声光热联合会奖青年奖
2012：中国科学院王宽诚西部学者突出贡献奖 [4]
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