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みなさんはテストをどのように行っているでしょう？
漫然とテスト仕様書に従ってテストしていませんか？そのテスト仕様書は単なるシステム仕様書に書かれていることの裏返しになっているだけではありませんか？システム仕様書に書かれていることを疑ったことはあるでしょうか？システム仕様書に書かれていないことがテストできず、バグとして流出してしまったことはありませんか？もしかしたら、システム仕様書に書かれているのにテストできないことすらあったりしませんか？
NPO法人ASTERではこのような低いレベルのテストから脱却するための試みとして、テスト設計コンテストを開催しています。
このチュートリアルでは、テストすべきこととは何か、を考えるところから始まり、抜け漏れを防ぎ、テストの全体像を組み立てるということについて易しく解説していきます。
なお、本チュートリアルは初心者向けの内容となっていますが、参加資格に制限はありません。テストについて今一度振り返ってみたい方も多くのヒントを得ることができるでしょう。多くの方々のご参加をお待ちしています。
テストすべきことを挙げきることは、バグを防ぐために大切な考え方です。ここではテストすべきことを網羅的に挙げるとはどのようなことか、どのように行ったらよいかについて、Myersの三角形問題を題材にして具体例を挙げながら説明します。
テストすべきことをテスト観点として列挙したら、それらをまとめてテストケースにしていきます。その時にテストケースの構造を考えると、網羅しやすいテスト設計になります。ここではテストケースの構造とはどのようなことか、どのようにまとめていったらよいかについて説明します。
テストケースの構造をテストフレームとしてまとめたら、テストの全体像を考えてみましょう。皆さんは単体テストや結合テスト、システムテストといったテストレベル、負荷テストや動作環境変更テスト、性能テスト、セキュリティテストといったテストタイプ、1回目の機能テストや2回目の回帰テストといったテストサイクルなどで、テストの全体像を捉えていると思います。こうしたテストコンテナとしてうまくテスト観点やテストフレームをまとめると、見通しの良いテスト設計になり、後工程や後プロジェクトでテストしやすくなります。ここではテストの全体像とはどんなものなのか、どのようにまとめていったらよいかについて説明します。
3.までは徐々にテストの全体像を捉えていく話でしたが、4.では逆に詳細なテストデータなどを決めていきます。ここではテストデータを網羅するパターンとして、範囲タイプ、一覧表タイプ、マトリクスタイプ、グラフタイプの4つのテストモデルを紹介し、それぞれの網羅基準とテストデータの導き方を説明します。
設計したすべてのテストケースが実行できればよいですが、時間やリソースは限られています。そこで、もしこのテストケースを行わなかったらどのくらい困ってしまうのかな？と考えて、困ってしまう順に実行していくように優先順位を付けましょう。ここではこの「リスクベースド」の考え方について説明します。
テストは網羅的に行うことも必要ですが、効率的にバグを見つけるためにピンポイントでバグを狙って検出する、というテスト設計も必要です。ここではピンポイントでバグを狙うためのテスト観点やその導き方について紹介します。
このように体系的にテストケースを設計していく行為全体をテスト開発プロセスと呼びます。ここまで説明してきたことをプロセスの側面から総括します。
チュートリアルの資料については下記よりダウンロードし、当日ご持参ください。
【U-30クラス チュートリアル資料のダウンロード】
http://aster.or.jp/business/contest/doc/2017_u-30_V1_2.zip
【U-30クラス チュートリアル資料（印刷用）のダウンロード】
http://aster.or.jp/business/contest/doc/2017_u-30_V1_2_Print.zip
内容はテストの考え方、テスト設計の基礎についての講義が中心となります。
対象者として、以下のような方々を想定しています。
チュートリアルは参加チームでない方、OPENクラス参加チームの方聴講も可能です。
テスト設計とはどのように行うのか、ご興味ある方、勉強中の方、ぜひご参加ください。
※U-30のチュートリアルは、年齢に関係なくどなたでも聴講いただけます。
| 開催日程 | 2016年7月20日（水） |
|---|---|
| 開催場所 | 株式会社HBA 2階大会議室 |
| 講師 | 岡 英仁 （JaSST Hokkaido実行委員会） 小楠 聡美 （アジェンダ） 安達 賢二 （HBA） |
| 備考 | ご来場の際は公共交通機関のご利用をお願いいたします。 |
| 開催日程 | 2016年8月20日（土） |
|---|---|
| 開催場所 | 日本大学理工学部 駿河台校舎7号館 |
| 講師 | 坂 静香 （テスト設計コンテスト審査委員会） 山﨑 崇 （ベリサーブ） |
| 備考 | ご来場の際は公共交通機関のご利用をお願いいたします。 |
| 開催日程 | 9月下旬予定 |
|---|---|
| 開催場所 | 調整中 |
| 講師 | 調整中 |
| 開催日程 | 2016年8月6日（土） |
|---|---|
| 開催場所 | 株式会社日新システムズ 京都本社 |
| 講師 | 宿口 雅弘 （イーソルトリニティ株式会社） |
| 備考 | ご来場の際は公共交通機関のご利用をお願いいたします。 |
チュートリアルは地域予選開催エリアにて、7月下旬～9月下旬に順次開催します。
お申込みは、原則各チュートリアル実施日の5日前まで受け付けます。
席に余裕がある場合は、5日前を過ぎてもお申込みを受け付けることがあります。
受付中の場合は、下記のお申し込みページにて表示されますので、ご確認ください。
チュートリアル参加料は無料です。
【チュートリアル（東海）参加お申込み】は現在調整中です。