iPhone 6/6 Plusのフリーズ、再起動ループ不具合。原因となるメモリ部品を入れ替え
一部のiPhone 6およびiPhone 6 Plusで発生している、端末がフリーズしたり、突然電源が落ちて再起動ループに陥るという現象。
これについて先日、128GBモデルに使われているメモリコントローラーに欠陥がある可能性をお伝えしました。
問題が指摘されたのはTLC NANDと呼ばれる、トリプルレベルセルのNAND型フラッシュメモリ。
phoneArenaが伝えた所によると、今後製造されるiPhone 6/6 PlusではこのTLC NANDの仕様を中止し、代わりに他のiPhone 6/Plusでも使用されているMTL HANDを搭載するとのことです。
TLCはMLCよりも低コストなコントローラーで、MLCの1.5倍の情報をストアしておくことができるそうです。
ただ、その一方で読み込みと書き込み速度がMLCよりも遅いという短所もあるようで、ひょっとするとこの部分が今回の問題のネックになっているのかもしれません。
もしこの情報がこれが本当ならば、アップル側が一部iPhone 6/6 plusの設計上の不具合を認めたことになります。ただ、ソースがはっきりと示されているわけではないので、鵜呑みにはしない方が良いと思います。
なお、一部で噂されていたリコールについては行わないという方向性なようです。