<検査ルームにて精密部品の検査> |
<色差データ管理> |
<走査型電子顕微鏡による観察> |
<画像寸法測定装置による測定> |
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<分析走査型電子顕微鏡> (SEM-EDX) 低倍率での立体観察や10,000倍を超える高倍率の観察まで幅広い用途があります。また元素分析機能も備えています。 |
<デジタルマイクロスコープ>
不良原因の特定はまず、拡大してみることです。360倍まで拡大可能で、モニターを見ながらターゲット部分を観察します。 |
<画像寸法測定器>
各処理条件に対する寸法変化の測定を行います。画像処理で測定するため誤差を最小限に抑えることが出来ます。 |
<分光測色計>
明度(明るさ)と彩度(色の鮮やかさ)を数値化します。色のバラつきや再現性を確認します。
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<光沢度計>
素材時の光沢度及び処理後の光沢度を測定します。
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<粗さ計>
表面の凹凸をRa,Ry,Rmaxなど項目ごとに数値化し、表面の平滑化を確認する目的として使用します。 |
<電子天秤>
処理前後の重量を正確に測定し溶解量の算出に利用します。 |
<分光光度計> 主に表面処理後の残留イオン濃度を測定します。
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その他の計測機器 |
・デジタルマイクロメータ ・電気伝導率測定器 ・パーティクルカウンター ・ハンディータイプ粗さ計 など |
各表面処理の工程及び内容、クリーンルームの詳細はこちらをクリックして下さい。 |